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  • SN74LVTH18652APM
  • Texas Instruments Incorporated
  • SCAN Bridge, JTAG Test Port
  • 36页
  • 560K
  • 2
  • SN74LVTH18652AHKC
  • Texas Instruments Incorporated
  • 3.3-V ABT SCAN TEST DEVICE WITH 18-BIT TRANSCEIVER AND REGISTER
  • 36页
  • 560K
  • 3
  • SN74LVTH18646APM
  • Texas Instruments Incorporated
  • SCAN Bridge, JTAG Test Port
  • 36页
  • 549K
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